РЕНТГЕНОВСКИЙ МИКРОСКОП

Прибор для исследования микроскопич. строения объектов с помощью рентгеновского излучения. Высокая проникающая способность, резкое изменение поглощения рентгеновского излучения с изменением атомного номера элементов позволяют получать контрастные (теневые) изображения внутр. строения объектов с высоким разрешением. Наибольшее распространение получили Р. м., действие которых основано на принципе теневой проекции объекта в расходящемся пучке рентгеновских лучей, испускаемых точечным источником (проекционные, или теневые, Р. м.).  

Проекц. Р. м. обычно состоят из микрофокусной рентгеновской трубки (с фокусным пятном 0,1-1 мкм в диам.), камеры для размещения исследуемого объекта и регистрирующего устройства. Разрешение Р. м. тем выше, чем меньше размер источника излучения и расстояние от него до объекта; контраст изображения определяется различием в поглощении рентгеновского излучения участками объекта с разл. плотностью или составом. Первые проекц. Р. м., нашедшие практич. применение, созданы в Великобритании (В. Кослетт и У. Никсон) и СССР (Б. М. Ровинский, В. Г. Лютцау и А. И. Ав-деенко) в 50-х гг. 20 в.

Выпускаемый серийный Р. м. теневого типа «МИР-2» обеспечивает разрешение порядка 1 мкм (при первичном увеличении до 200) и контрастную чувствительность 2%. Р. м. применяют для исследования микростроения металлов и сплавов, органич. и биол. объектов, миниатюрных изделий радио- и микроэлектроники. Количеств, анализ изображений строения объектов позволяет также определить их элементный и фазовый составы с относит, точностью от 1 до 5%. Абс. чувствительность в определении элементного состава достигает 10 г.

Copyright © 2002 - 2017 Ravnopravie.kharkov.ua. All Rights Reserved.