ПЛАЗМЕННЫЕ МИКРООБРАЗОВАНИЯ

Локализованные потоки плазмы, возникающие при электронной бомбардировке поверхности электрода, обусловленные десорбцией и последующей ионизацией потоков газа и пара из областей с дефектами структуры поверхностного слоя. Плотность атомов в П. м. на неск. порядков превосходит плотность остаточных газов в ЭВП. П. м. наблюдаются при бомбардировке электронным потоком с плотностью мощности более 50-150 Вт/см. Они имеют вид факелов, наиболее характерные размеры которых порядка долей мм, время существования от единиц до десятков ч; при этом плотность П. м. на бомбардируемой поверхности составляет десятки - сотни см , температура 10 К.  

Доля мощности электронного потока, преобразуемая в мощность излучения П. м., может достигать 10%. Параметры П. м. зависят от свойств материала электрода, способов обработки его поверхности, режимов электронной бомбардировки. П. м. оказывают отрицат. действие на параметры и эксплуатац. характеристики ЭВП: инициируют нарушение электрической прочности, вызывают ионную фокусировку электронного луча на поверхности электрода и возбуждение паразитных колебаний, повышают уровень шумов. Излучение П. м. используют для целей дефектоскопии, контроля качества поверхности, а также при оценке работоспособности материалов в условиях интенсивных электронных потоков и т. д.

Copyright © 2002 - 2017 Ravnopravie.kharkov.ua. All Rights Reserved.