ЛАВИННО-ТЕПЛОВОЙ ПРОБОЙ

Неограниченное возрастание тока между электродами полупроводникового прибора, связанное с разогревом межэлектродного слоя полупроводника (диэлектрика) при ударной ионизации и лавинном умножении носителей заряда (НЗ). Л.-т. п. обусловлен тем, что с ростом температуры происходит рост концентрации неосновных НЗ, который в свою очередь приводит к увеличению лавинного тока и дальнейшему росту температуры ПП. Л.-т. п. приводит, как правило, к необратимому термич. разрушению межэлектродного слоя и выходу прибора из строя. См. также Пробой полупроводниковых приборов. 

Copyright © 2002 - 2017 Ravnopravie.kharkov.ua. All Rights Reserved.