ЭЛЕКТРОННЫХ ПУЧКОВ АНАЛИЗАТОР

Прибор или установка для эксперим. исследования электронных пучков. В простейшем случае осн. элементом Э. п. а. является светящаяся мишень для визуального наблюдения следа пучка (например, стеклянный экран, покрытый люминофором). При большой мощности пучка (десятки Вт и более) в качестве мишени применяют графитовую пластину или фольгу из тугоплавкого металла (Та, Мо и др.), а за светящимся следом пучка наблюдают через спец. смотровое окно. Для количеств, измерений распределения плотности тока и скоростей электронов Э. п. а. снабжают спец. зондирующими устройствами.

Наибольшее распространение получили Э. п. а. с использованием метода подвижного зондирующего коллектора с малым отверстием, в которых осн. часть пучка перехватывается первым коллектором с отверстием (диам. 0,02-0,2 мм), а прошедшая через это отверстие часть пучка улавливается вторым коллектором и служит мерой плотности тока или используется для измерения скоростей электронов с помощью системы сеток с тормозящим электрич. полем. Осн. погрешности такого метода связаны с конечной величиной диам. отверстия и вторичной электронной эмиссией с коллекторов.

Ограничения по плотности мощности обусловлены главным образом теплостойкостью первого коллектора (так, в импульсном режиме работы с высокой скважностью макс, плотность мощности составляет 10 Вт/см). Совр. Э. п. а., содержащие вакуумную систему, механизм перемещения и отсчёта координат зондов, источники питания и комплекс измерит, аппаратуры, позволяют исследовать также ВЧ параметры электронных пучков - амплитуду и фазу гармоник тока, мощность отд. слоев пучка, поведение электронных пучков в коллекторе. Э. п. а. применяются для исследования свойств электронных пучков в реальных условиях и режимах, не поддающихся точному теоретич. анализу (реальный вакуум, ионный фон, нач. скорости электронов, дефекты сборки, структура поверхности катода И Др.).

Copyright © 2002 - 2017 Ravnopravie.kharkov.ua. All Rights Reserved.