Дефектоскоп

Устройство для обнаружения дефектов (например, нарушений сплошности или однородности макро и микроструктуры, отклонений в химическом составе) в материалах, полуфабрикатах и изделиях методами неразрушающего контроля. С помощью Дефектоскопа выявляют потенциально негодные изделия, чтобы исключить их из производств, процесса и тем самым увеличить выход годных изделий (материалов) и повысить их качество. 

Существуют рентгеновские, магнитные, УЗ, ИК, люминесцентные, индуктивные, электронно-лучевые и другие Дефектоскопы. Например, при просвечивании стеклянных деталей поляризованным светом можно обнаружить места напряжений, которые могут привести к нарушению спая; при помощи рентгеновского излучения или УЗ обнаруживают трещины, раковины или посторонние включения в материалах, предназначеных для изготовления деталей ЭВП; с помощью ожеспектрометра, используемого в качестве Дефектоскопа, обнаруживают наличие в веществах химических примесей, нарушения кристалической решётки и другие дефекты в полупроводниковых материалах, используемых при изготовлении ИС и полупроводниковых приборов; люминесцентные Дефектоскопы позволяют обнаруживать нарушения покрытий на деталях электронных приборов.

Наиболее широко в электронном приборостроении применяется оптических Дефектоскопов, представляющий собой светооптическую установку с просветным экраном для визуального контроля или системой автоматического анализа изображения. Такие Дефектоскопы обеспечивают 100%-ный экспресс-контроль ПП пластин на наличие в них микротрещин, механических напряжений, сколов, следов резки, царапин, прилипших абразивных зёрен, линий скольжения, дефектов упаковки, скоплений дислокаций и тому подобное. дефектов непосредственно в производств, условиях. В оптических Дефектоскопах для обнаружения и изучения (анализа) поверхностных дефектов ПП пластину освещают под углом 40-60 градусов пучком световых лучей от точечного источника.

Наличие на поверхности пластины различных дефектов приводит к изменению интенсивности отражённых световых лучей. Наблюдая на экране Дефектоскопа изображение пластины, полученное в отражённом свете (оптическая топограмма) и состоящее из чередующихся светлых и тёмных пятен, полос, линий и штрихов, определяют тип дефектов и их размеры. Оптические топограммы ПП пластин можно фотографировать, поместив на место экрана кассету с плоской фотоплёнкой. Скорость контроля на оптических Дефектоскопах достигает 360-380 пластин за 1 час.

Copyright © 2002 - 2017 Ravnopravie.kharkov.ua. All Rights Reserved.